微流控中的電極掩膜版的制備工藝
在微流控芯片的制造過程中,掩膜版(Photomask)扮演著至關重要的角色。它也被稱為光罩、光掩膜或光刻掩膜版,是微電子制造過程中的圖形轉移工具或母版。掩膜版承載了電子電路的核心技術參數,通過光刻過程,將掩膜版上的設計圖形轉移到光刻膠上,再經過刻蝕,將圖形刻到襯底上,從而實現圖形到硅片的轉移。
掩膜版的類型
掩膜版通常由基板和遮光膜組成,其中基板襯底在透光性及穩(wěn)定性等方面性能要求較高。石英玻璃由于其化學性能穩(wěn)定、光學透過率高、熱膨脹系數低,近年來已成為制備掩膜版的主流原材料。遮光膜分為硬質遮光膜和乳膠遮光膜,其中硬質遮光膜材料主要包括鉻、硅、硅化鉬、氧化鐵等。在各類硬質遮光膜中,由于鉻材料強度高、可形成細微圖形,因此鉻膜成為硬質遮光膜的主流。
掩膜版的制備工藝
掩膜版的制造工藝復雜,加工工藝流程主要包括以下幾個環(huán)節(jié):
CAM圖檔處理:這是掩膜版制造的第一步,涉及到將設計好的圖形轉換為可用于光刻機的數字格式。
光阻涂布:在掩膜基板上涂上一層光刻膠,這層光刻膠將在后續(xù)的光刻步驟中起到關鍵作用。
光刻:使用光刻機將設計圖形精確地刻寫在掩膜版上。
顯影:通過化學反應去除未曝光的光刻膠,留下設計圖形。
蝕刻:通過化學或物理方法去除未被光刻膠保護的部分,形成所需的圖案。
脫膜:去除剩余的光刻膠。
清洗:徹底清洗掩膜版,去除所有殘留物。
宏觀檢查:對掩膜版進行全面的檢查,確保沒有明顯的缺陷。
自動光學檢查:使用自動光學檢測設備檢測掩膜版制造過程產生的缺陷,如產品表面缺陷、線條斷線、線條短接等。
精度測量:測量掩膜版的關鍵尺寸(CD,Crital Dimension)和套刻精度(Overlay)等關鍵參數。
缺陷處理:對檢測到的缺陷進行修復。
貼光學膜:在掩膜版上貼上光學膜,以提高其性能。
微流控芯片中的應用
在微流控芯片的制造中,掩膜版的精度直接影響到芯片的質量。菲林掩膜版和鉻版掩膜是兩種常用的掩膜版,它們在材質、制作工藝、精度及應用場景等方面有所不同。菲林掩膜版成本相對較低,制作周期短,適合中低精度要求的微流控芯片制作。而鉻版掩膜則制作工藝更為復雜,適合高精度要求的微流控芯片制作。
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