幾種主要的鍵合方法
1、 幾種主要的鍵合方法
1)低溫直接鍵合方法
硅片直接鍵合技術(shù)(Silicon Direct Bonding)(簡(jiǎn)稱SDB)就是把一片拋光硅片經(jīng)表面清潔處理,在室溫下預(yù)鍵合,再經(jīng)高溫鍵合而成為一個(gè)整體的技術(shù)。
低溫鍵合對(duì)環(huán)境要求較高,要求鍵合片的表面非常平整光滑,在鍵合前要對(duì)鍵合片表面進(jìn)行活化處理。
2)二步直接鍵合法
通常,鍵合前先對(duì)硅片表面進(jìn)行親水性預(yù)處理,接著在室溫下對(duì)硅片進(jìn)行鍵合,然后對(duì)鍵合硅片經(jīng)1000℃左右高溫退火,以達(dá)到最終的鍵合強(qiáng)度。
3)陽(yáng)極鍵合技術(shù)(Anodic Bonding)
陽(yáng)極鍵合技術(shù)是由美國(guó)Wallis等人提出,又稱靜電鍵合或場(chǎng)助鍵合。
是一種將硅芯片或圓片與玻璃襯底相封接的封裝方法
鍵合時(shí),將對(duì)準(zhǔn)好的樣品放在加熱板上,硅芯片或圓片與陽(yáng)極相接,玻璃與陰極相接。
當(dāng)溫度升高后,玻璃中 Na離子的遷移率提高,在電場(chǎng)作用下,Na向陰極遷移,并在陰極被中性化,然而,在玻璃中固定的束縛負(fù)離子O 2 -保持不動(dòng),并在硅的表面感應(yīng)形成一層空間正電荷層,使得硅片和玻璃之間產(chǎn)生靜電力完成鍵合。
4) 外延Liftoff方法(ELO)
其基本原理是器件層結(jié)構(gòu)先生長(zhǎng)在晶格匹配的襯底上,中間
有犧牲層(lift-off),用選擇性濕法刻蝕技術(shù)除掉犧牲層,這樣器件層就可以剝離、鍵合、轉(zhuǎn)移到另一個(gè)襯底上,
2、鍵合的基本原理
第一階段,從室溫到110℃, Si-O-Si鍵逐漸被界面水分解
Si-O-Si+ HOH Si-OH+ OH-Si
增大界面區(qū)-OH基團(tuán),在鍵合片間形成更多的氫鍵
第二階段,溫度在110~150 ℃,界面處Si-OH基團(tuán)合成化形成氫鍵的兩硅片的硅醇鍵之間發(fā)生聚合反應(yīng),產(chǎn)生水及硅氧鍵,即
Si-OH+ HO-Si Si-O-Si+ H2O
第三階段,150~800 ℃,由于受鍵合面積的限制,鍵合強(qiáng)度不再增強(qiáng)。
150 ℃時(shí),幾乎所有的硅醇鍵都變?yōu)楣柩蹑I,從而達(dá)到鍵合 。
溫度大于800 ℃時(shí),由于氧化層的粘滯流動(dòng)和界面處物質(zhì)的擴(kuò)散,可消除所有非鍵合區(qū),達(dá)到完全鍵合。
3、低溫直接鍵合方法機(jī)理
硅片直接鍵合技術(shù)(Silicon Direct Bonding)(簡(jiǎn)稱SDB)就是把一片拋光硅片經(jīng)表面清潔處理,在室溫下預(yù)鍵合,再經(jīng)高溫鍵合而成為一個(gè)整體的技術(shù)。
4、靜電鍵合的基本原理
拋光的硅片表面與拋光的玻璃表面相接觸,這個(gè)結(jié)構(gòu)被放在一塊加熱板上,兩端接有靜電電壓,負(fù)極接玻璃,正極接硅片。負(fù)極采用點(diǎn)電極以便透過(guò)玻璃表面觀察鍵合過(guò)程。玻璃是絕緣體 ,在常溫下不導(dǎo)電 ,然而在給玻璃加熱(鍵合時(shí)溫度在370 ~420 ℃) ,加高直流電壓(鍵合時(shí)直流電壓控制在1000~1500 V)時(shí)玻璃中的正離子(如鈉、鉀、鈣離子)就會(huì)在強(qiáng)電場(chǎng)的作用下向負(fù)極運(yùn)動(dòng),同時(shí)玻璃中的偶極子在強(qiáng)電場(chǎng)作用下 ,產(chǎn)生極化取向(如圖 ).在界面形成電子的積聚過(guò)程中 ,玻璃也顯現(xiàn)導(dǎo)電性。
標(biāo)簽:   鍵合 陽(yáng)極鍵合 靜電鍵合 低溫鍵合 硅片